《表1 不同浓度Cu胁迫下玉米叶片中的Cu含量》

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《基于SD-SWT的铜胁迫下玉米光谱奇异性甄别与污染监测》

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对光谱采集完成的叶片即时进行冲洗、烘干、粉碎及微波消解等预处理，装入样品袋中并编号和标注，采用的测定仪器是电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）。测定时，保持室温20℃，压力0.550～0.825 MPa，室内相对湿度低于60%，按照《发射光谱仪检定规程》（JJG 768—2005）对仪器进行检定并校准；每个样品测定结束后，用去离子水清洗仪器30 s，并对仪器进行维护以保证测定结果的准确性。对各浓度下植株老、中、新叶片分别进行测定，每个浓度在相同条件下测定3次，将计算得到的算数平均值记作该浓度下叶片中的Cu含量，测定结果见表1。Cu胁迫浓度的增加使玉米叶片中的Cu含量也增加，玉米叶片中的Cu含量与胁迫浓度的相关系数r为0.970 0，可见二者有极高的相关性。