《表1 存储芯片高温实验数据》
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在高温下，也需有可靠的数据存储功能。为了验证仪器的耐温性能，我们在室内对存储芯片进行了高温试验，实验结果（如表1）所示。
| 图表编号 | XD002021000 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.12.01 |
| 作者 | 李明慧、顾鹏程 |
| 绘制单位 | 中油测井大庆分公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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