《Tab.2 Content of Si and Si O2in different positionsa》

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《四乙基氢氧化铵改性聚偏氟乙烯接枝二氧化硅油水分离膜的研制》

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ain Fig.6

EDX测试对样品膜截面在Fig.7中不同区域的Si O2分布含量结果如Tab.2所示。Si在不同区域的含量保持在2.92%（质量分数）左右，其对应的Si O2含量在6.25%（质量分数）左右，与2.2节中以质量法测得的改性PVDF粉体接枝Si O2接枝率相吻合，未出现硅元素富集现象。在对整个PVDF基体的观察中，并未发现任何纳米粒子有团聚现象，表明Si O2均匀地接枝到改性PVDF上。