《表6 石英纤维Si2p结合状态的分析Table 6 Si2p peak affiliation and content of QF》
图8是未处理的和偶联剂处理过的QF的C1s和Si2p的拟合图谱,表5和表6给出了各个谱峰的归属。从表5中可以看出,QF表面主要含有—C—C—(284.44eV),—C—N—(285.69eV),—C—OH(286.28eV)和—C=O(286.85eV),含碳官能团主要来自QF表面的上浆剂以及少量的处理剂[19]。经过TEOAS处理之后由于偶联剂的覆盖和相互作用,QF表面的—C—N—,—C—OH和—C=O键有所减少,并且出现了—C≡C—键。QF表面Si2p结合能主要为两种形式,即SiO2(103.3eV)和—Si—OH(102.52eV)。而经过TEOAS处理之后,QF表面的SiO2部分被TEOAS遮蔽,含量有所下降,TEOAS中的乙氧基水解形成了新的—Si—OH,所以—Si—OH的含量有所增加,并且有一部分进一步脱水转化成了—Si—O—Si—(101.71eV)。由上述分析可知,TEOAS已化学接枝至QF表面。
图表编号 | XD0010493800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.08.20 |
作者 | 杨唐俊、袁荞龙、黄发荣 |
绘制单位 | 华东理工大学材料科学与工程学院特种功能高分子材料及相关技术教育部重点实验室、华东理工大学材料科学与工程学院特种功能高分子材料及相关技术教育部重点实验室、华东理工大学材料科学与工程学院特种功能高分子材料及相关技术教育部重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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