《表1 样品位置对光功率测量的影响》

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《针对COC老化测试的优化改进》

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积分球测量中，大多数情况下光源都被放置于积分球的中心位置进行光功率测量。LD(Laser Diode）芯片作为被测光源，其自身具有发光方向性、散热、自吸收等特殊性[8]。在使用积分球进行光功率测量过程中，LD芯片发射光具有极强的方向性，导致积分球表面部分区域接收光强度远大于其他区域。LD芯片这一特性会造成积分球表面的分布呈不均匀分布，在这种情况下无法使用公式推导出LD芯片的输出光功率。因为探测器口的位置及挡板的设置是固定的，而不同的反射分布导致探测器所接收的光功率只是其中一小块区域的光功率，而无法知道其他区域的光功率。为了避免积分球测量结果出现较大的误差，必须采用侧面开孔的积分球测量。将LD芯片出光口必须限制在球体边缘处一端，以确保有足够的空间形成漫反射和准确地自吸校正[9]。为了验证样品放置位置对测量精度的影响，因此对LD芯片进行如下测试，该样品通过光谱仪事先测得光功率为10.92 m W，测试结果如表1所示。