《表3 溢出宽度结果分析:国际专利分类号间的知识流动与技术间知识溢出测度——基于中国发明授权专利数据》
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《国际专利分类号间的知识流动与技术间知识溢出测度——基于中国发明授权专利数据》
对专利样本溢出宽度的分析如表3所示。从直接溢出矩阵横向进行统计,发现技术领域22微观结构和纳米技术相比之下溢出宽度较窄,35个技术子领域中涉及了5个。技术子领域间溢出宽度较窄的还有技术子领域5基本通信处理及技术子领域18食品化学,这两个领域技术溢出的宽度分别为18和17。可以看出,现阶段纳米技术的主要溢出领域集中在技术子领域1电力机械、仪器、能量,以及技术子领域8半导体、9光学和10测量(11生物材料分析)领域,且技术子领域1、8、9、10的溢出宽度排名都较为靠前,纳米技术的直接溢出作用虽然不强,但是随着时间发展可通过溢出子领域进行二次间接知识溢出。
图表编号 | XD00193231200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.11.24 |
作者 | 王格格、刘树林 |
绘制单位 | 武汉理工大学经济学院、武汉理工大学经济学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |