《表9 热老化处理后触头盒实验结果》

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《不同老化条件对开关柜绝缘件绝缘性能的影响研究》

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在经过热老化处理后，套管试验结果见表9。在经过热老化后，触头盒的起晕电压及熄灭电压明显基本保持不变。在经过耐压处理后，可以发现触头盒的起晕电压明显下降了3.2 k V，熄灭电压下降了4 k V。经过耐压处理后的局放值为1.7 p C，证明触头盒的绝缘性能仍然保持着较高的水平。从结果中可以看出，热老化对于触头盒的耐压性能影响与套管类似，并不会影响触头盒的初始绝缘性能。在经过耐压试验后，触头盒的起晕电压和熄灭电压有了明显的下降。其下降原因也与套管绝缘性能下降原因类似。