《表1 1 多个断点检验白—佩隆(Bai-Perron)检验L+1对L序列的变化(断裂)断裂检验选项:修剪范围0.15,最大断裂次数5,显著水平0.05》
注:*显著水平为0.05。**白—佩隆(Bai-Perron,Econometric Journal 2003)临界值。
对模型的诊断性检验揭示了具有正态分布残差的有效估量,如表7所示。其中Jarque-Bera的概率大于0.05α,这表明残差是多元正态的。表8中的自相关误差检验显示,LM检验系列相关性分析的概率大于5%的显著性水平,说明残差中没有序列相关性。表9显示向量误差修正残差的异方差检验的概率大于5%显著水平,证实向量误差修正残差中没有异方差性。表10、表11和表12显示,使用昆特—安德鲁斯(Quandt-Andrews)断点检验和白—佩隆(Bai-Perron)多断点检验,在概率小于5%显著性水平时回归中存在结构性断裂。表11和表12显示,由于尺度F统计量超过了临界值,回归中出现了两种结构性断裂。
图表编号 | XD00190226900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 罗纳尔多·卡鲍阿坦、维吉里奥·M.塔朗加里、刘悦 |
绘制单位 | 菲律宾圣托马士大学研究生院@刘悦 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |