《表2 不同退火时间后铂丝的晶粒尺寸》

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《铂丝位错特性对标准铂电阻温度计稳定性影响的研究》

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利用XRD分析方法也可获得铂丝晶粒尺寸随退火时间的变化，见表2。整个退火实验过程中，2个铂丝样品的晶粒尺寸退火后的变化趋势基本一致，退火100 h内减小，退火100 h～200 h内增大，退火200 h后趋于不变。铂丝生产拉丝形变过程中以位错存在的缺陷伴随着微观组织的改变，变形量越大，畸变晶粒就越大，此时的位错密度就越高。铂丝在660℃下退火，其畸变晶粒碎裂成小的晶粒，此时晶粒尺寸减小，位错密度也减小；随着退火时间的增加，铂丝会发生再结晶并形成晶核，再结晶过程中伴随着晶粒的相互吞并，形成了更规则的晶界，造成晶粒尺寸增大，位错密度继续减小；直至完成再结晶，晶粒停止长大，晶粒尺寸不再变化，位错密度也趋于稳定。铂丝晶粒尺寸变化的规律验证了其位错变化结果的可靠性。