《表3 解耦电路开关状态：不同试验方式对绝缘子污闪特性的影响研究》
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利用均匀升压法和恒压升降法对试品A、B进行交流污闪试验，得到不同盐密SDD下的污闪电压，见表3。
| 图表编号 | XD00186329400 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2020.12.25 |
| 作者 | 陈吉、蒋兴良、陈成瑞、李新梁 |
| 绘制单位 | 重庆工程学院、输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)、重庆工程学院、重庆工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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