《表1 芯片管脚状态：一种基于V93000的高速缓冲器测试方法》

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《一种基于V93000的高速缓冲器测试方法》

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IOZ（输出高阻状态时电流）参数是一个在芯片直流测试中常见的一个测试参数，由于SN74LVC2T45并没有OE管脚，而是通过改变DIR管脚的高低电平来实现输出管脚的高阻状态。当DIR管脚由高电平变为低电平时，输出管脚会出现一个短暂的高阻状态，如表1所示。在测试IOZ时，使测试码短暂固定在高阻状态，通过测试机台PPMU加压测流的方法，达到测试IOZ的状态。