《表1 对照ASTM G级将晶粒面积分级》

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《电子背散射衍射法在晶粒度分析中的应用》

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其中NAE是指在100倍的放大倍率下，每平方英寸的颗粒数，G为ASTM晶粒度级别数。这些晶粒面积的原始测量数据可以计算出斜度和峰度，使用常规的计算类的应用程序也能计算出数据的峰度。其次，从大到小排列晶粒面积，然后根据它们与特定ASTMG值（如表1所示）的关系来对应晶粒面积。在表1中，对于给定的G级别，或根据给定的G值加上或减去面积（级别变化为G±0.5），将晶粒面积进行分级。每个G值为每级的全部的晶粒面积相加并且除以测量的所有晶粒的总面积并以百分比的形式表示。