《表1 探头参数：双合金整体叶盘连接界面的超声检测实验研究》

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《双合金整体叶盘连接界面的超声检测实验研究》

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所用的仪器为GE公司的USIP40，配合探头操纵和盘件夹持旋转装置实现内圆柱面C扫描成像。实验采用了不同频率的小晶片直径水浸纵波探头以及配套的90°声反射镜，探头具体参数见表1。