《表3 氧化铜 (粗品) 和XX氧化铜EVF填孔对比》
表3是400℃煅烧2 h后的氧化铜和XX氧化铜(本公司电镀生产线使用)电镀填孔结果对比。相同实验条件下,自制氧化铜电镀凹陷高达15μm,而XX氧化铜凹陷小于5μm。电镀结果充分说明了自制氧化铜虽然氧化铜纯度、杂质含量和溶解速率等结果符合指标,但其对EVF填孔电镀药水光亮剂有消耗且下凹太大高达15μm左右,因此此自制氧化铜还不能用于EVF填孔电镀,需找出原因解决其对光亮剂消耗和EVF填孔电镀凹陷过大的问题。
图表编号 | XD0016951500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.11.18 |
作者 | 周华梅、陈立高、付海涛 |
绘制单位 | 上海美维科技有限公司研发部、上海美维科技有限公司研发部、上海美维科技有限公司研发部 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |