《表4 金丝拉力统计:电子产品大面积钎焊用钎剂的研究》
此外,金丝键合等工序也深受钎剂残留物影响,若组件经过烘烤后,钎剂残留物出现在芯片或基板键合点的位置,导致金丝键合不上去,而且较易损坏键合热压头、劈刀等。众所周知,部分电子产品关键制造设备的配件,一旦非正常损坏其后果往往难以承受。而且,键合之前往往需要130℃预热,远高于松香残留物的玻璃化转变温度,因此键合过程中也会有钎剂残留物漫流到键合点、芯片等关键位置的风险。本试验对使用不同钎剂的组件进行了严格的清洗,并选取相对靠里、钎剂残留物不易漫流到的位置进行键合,并做了金丝拉力测试记录见表4。可见使用不同钎剂组件的金丝拉力没有明显的差别。
图表编号 | XD0016949500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.11.18 |
作者 | 王禾、闵志先、潘旷、温丽、薛松柏 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、南京航空航天大学、南京航空航天大学 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |