《表3 四种样本Rthj-c各成分热阻Tab.3 Rthj-ccomponents of four samples》

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《功率VDMOS器件封装热阻及热传导过程分析》


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℃/W

图7为采用双界面法[10],即通过在管壳背面和散热板之间加导热硅脂和不加导热硅脂的办法,测试两种界面下的瞬态热阻值,从而得到两个结构函数分离点并确定Rthj-c值,再通过结构函数变换,分析得出热传导经过芯片、焊料、框架和树脂这四种材料热阻值及所占比例,结果如表3所示。