《表2 故障注入测试结果统计》

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《FPGA在辐照环境下的故障注入系统研究》

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注：（1）必要位即为与DUT设计相关的位；（2）非关键可修复位即对该位进行翻转不会影响DUT的功能逻辑，且该位翻转后可被修复，其占比为非关键可修复位个数与必要位个数之比；（3）关键可修复位即对该位进行翻转会导致DUT功能测试期间出现错误，但该位翻转后可被修复，其占比为关键可

故障注入的结果由PC端进行统计，最终将必要位分为5类：非关键可修复位、非关键不可修复位、关键可修复位、关键不可修复位、影响了同帧的其他非掩码位的位。其中，关键位表示对该位进行翻转会导致DUT功能测试期间出现错误，非关键位表示对该位进行翻转不影响DUT的功能逻辑。三个测试中未发现不可修复位。统计结果如表2，由此得到：