《表1 面板单位根检验结果》

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《我国工业行业技术分解测度与技术溢出渠道分析》

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注：括号外为统计量；括号内为对应的p统计值。

首先需要对各变量进行平稳性检验以避免伪回归的出现。这里使用第一代面板单位根检验中的LLC（Levin等[19]、Breitung[20]、Hadri[21]、Maddala和Wu[22]的Fisher?ADF）4种检验方法，前两种属于同质单位根检验，后两种属于异质单位根检验，第三种的原假设为平稳，其余原假设为存在单位根，检验结果见表1。各个指标中，grdit=ΔRDit/ RDi，t-1为行业内研发资本存量的增长率，gordit=ΔORDit /ORDi，t-1为其他行业研发资本存量的增长率，为按照CH[12]构建的通过进口获得的国外研发资本存量的增长率，为按照LP[13]构建的通过进口获得的研发资本存量的增长率，为借鉴CH[12]构建的通过出口获得的国外研发资本存量的增长率，为借鉴LP[13]构建的通过出口获得的国外研发资本存量的增长率，geffit=ΔEFFit /EFFi，t-1为生产效率的增长率，gtechit=ΔTECHit /TECHi，t-1为技术进步的增长率，gtfpit=ΔTFPit/ TFPi，t-1为全要素生产率增长率。由于所有的变量都是经过差分处理的，所以所有的变量均显示平稳。