《表3 两组缺陷记录实例Table 3 Two groups of defect record examples》
由表2可见,知识图谱模型相对于LSI和LDA模型,在准确率、召回率和F1值上都有明显的优势,且加入结构化数据信息能进一步提升检索效果。从原理上看,知识图谱的优势是可以准确地识别关键信息、匹配同义词和进行知识推理,而不局限于字面上的相似度,并充分结合了电力领域的知识,具有很强的针对性,这也是传统语义分析方法难以实现的。为了更直观地反映知识图谱的上述优势,以表3中两组缺陷记录的匹配为例进行说明。
图表编号 | XD0015507100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.25 |
作者 | 刘梓权、王慧芳 |
绘制单位 | 浙江大学电气工程学院、浙江大学电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |