《表1 测试数据参数:KID65783AP显示IC的失效分析与研究》

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《KID65783AP显示IC的失效分析与研究》


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在输出端与输入端端子间追加漏电流测试项目,晶圆状态有问题,可以有效检出。具体如表1、图10、图11所示。