《表1 裂纹张开位移随时间的变化过程》

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《复型试验方法在电子设备结构损伤检测中的应用》

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如图2所示，裂纹在复型薄膜纸上清晰地显示出来，随着时间的延长，结构表面裂纹张开位移始终在不断变化，由于复型过程中薄膜位置的偏转，裂纹与水平线呈现有角度。裂纹张开位移随时间的变化过程如表1所示。