《表2 经烘烤修复后的不合格薄膜长度和比例》
将复卷后的薄膜放置在60℃、50%湿度烘房,烘烤4 h,发现薄膜上的胶带压痕有明显降低,受压痕影响的薄膜长度明显降低。尽管经烘烤处理后并不能保证所有带压痕的薄膜都能恢复平整投入下道工序,但带压痕的薄膜长度明显降低了,均值由烘烤前的25 m降至18m,不合格率由1.83%降至1.29%。这提示我们在基于不影响后续使用的前提下,可以采用适当的条件对压痕薄膜进行烘烤修复,以降低胶带压痕带来的不良后果。
图表编号 | XD00144399900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.01 |
作者 | 胡甲元、剧君 |
绘制单位 | 合肥乐凯科技产业有限公司、合肥乐凯科技产业有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |