《表3 分析线及干扰谱线》

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《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定锆铪合金中磷铁铪》

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待测元素谱线众多，每条谱线的测定强度都会或多或少的受到重叠谱线、临近谱线的干扰。根据对试液的光谱扫描结果和标准样品中待测元素测定结果进行比对。结果表明：P 213.617nm受到P 213.619nm，Ta 213.637nm，Co 213.649nm，Nb 213.704nm，Cu 213.597nm，Ti 213.572nm，P213.547nm，Ta 213.522nm的干扰；P 214.914nm受到Nb 214.903nm，Cu 214.898nm，W 214.884nm，Nb214.954nm，Hf 214.983nm，Ta 214.996nm的干扰；P 178.221nm受到I 178.221nm，I 178.215nm，Si178.268nm的干扰；P 177.434nm受到In 177.424nm，177.413nm（大峰，无名峰）的干扰；Fe 238.204nm受到Zr 238.236nm，Hf 238.100nm的干扰；Fe239.562nm受到Ru 239.572nm，W 239.547nm，Ta 239.504nm的干扰；Hf 277.336nm受到V277.427nm的干扰，不过距离较远，可以分开；Hf273.876nm受到V 273.971nm的干扰，相距较远，可以分开；Hf 264.141nm受到C 264.144nm的干扰；Hf 232.247nm受到In 232.340nm的干扰，但可以分开。实验分析线及干扰谱线情况见表3。本法选择P 178.221nm、Fe 239.562nm、Hf 277.336nm为分析线。