《表4 分析元素的干扰谱线》

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《X射线荧光光谱法测定地质样品中的硫和氟》

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S元素矿物种类比较多，F元素荧光强度较低，均存在一定的粒度效应和矿物效应，会影响XRF分析方法测定的准确度。实验中S、F元素测定分别选择了Ge11、LiF220晶体，550μm狭缝宽度，在保证良好分辨率的前提下，校正元素谱线重叠干扰，以避免忽视干扰元素的干扰而对分析结果产生较大误差。被分析元素S、F的主要干扰谱线见表4。