《表5 样品分析结果：标准样品修正-X射线荧光光谱法测定碲铋矿石中碲和铋的含量》
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《标准样品修正-X射线荧光光谱法测定碲铋矿石中碲和铋的含量》
按试验方法和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）对高、低品位精矿样品进行分析，结果见表5，铋、碲的质量分数比值（wBi/Te）的理论值为1.638。
| 图表编号 | XD00136009000 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2020.02.18 |
| 作者 | 李可及 |
| 绘制单位 | 中国地质科学院矿产综合利用研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
