《表3 样品有无锡片X荧光强度》

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《稀土系贮氢合金中14种主量元素配分量的测定-X射线荧光光谱法》

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kcps

本试验对样品上有无覆盖锡片进行了研究，如表3所示。X射线荧光光谱仪配备的样品杯通常为不锈钢杯，采用薄样法检测时，样品杯中的铁、铬、镍、铜等元素将被二次激发。正对准直器的杯壁中的元素荧光射线会穿过薄样片，经晶体衍射后被探测器检出，从而对铁、铬、镍、铜等元素的检测产生干扰。为此，本文采用样片上覆锡片的方法有效地消除了该类干扰。