《表3 样品的粒径对化合物荧光强度的影响》

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《粉末压片-X射线荧光光谱法测定高钛型高炉渣中化学成分》

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采用粉末直接压片法制样，样品的粒径是影响测定结果的一个重要因素。取同一样品经磨细加工后分别过0.380，0.180，0.150，0.125，0.100，0.074，0.058，0.048mm网筛后，制成样片，按照仪器工作条件对其测定，考察了样品粒径对化合物荧光强度的影响，结果见表3。