《表5 测试信号在对应过完备字典上的重构性能》
从表4可以看出,只有测试信号与过完备字典在同一故障状态下时才有较高的重构精度,意味着其他故障状态下的信号不能在该字典上获得最稀疏分解,这为后续故障诊断提供了新的思路。测试信号在对应故障过完备字典上的重构误差、重构时间及K-SVD字典训练时间,如表5所示。
图表编号 | XD00133988400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.08 |
作者 | 郭俊锋、杨文 |
绘制单位 | 兰州理工大学机电工程学院、兰州理工大学机电工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |