《表2 竖直台阶侧面第1次检测结果平面偏差》
为了验证SMEIS系统的测量精度,对图14所示的精磨加工的台阶面零件进行了重复性精度验证试验。具体测量对象是该零件表面高度为1mm的竖直台阶侧面,该小平面经过精磨处理,平面度为0.02mm。使用SMEIS系统对该竖直台阶面进行了3次独立检测,获得的数据点总量分别为18028个、19340个、17276个,其中,每条激光点列约10个点,其检测结果如图15所示。分别利用这3次检测得到的数据点拟合平面,并统计每个点到其对应平面的距离,将统计结果绘制成频率分布直方图(图16),统计结果的具体数值分别如表2~4所示。数据显示,SMEIS系统对竖直台阶平面的第1次检测结果的平面偏差平均值μ1为0.0394mm,标准差σ1为0.0301mm,在置信区间(–0.1,0.1)内的置信度为95.5%;第2次检测结果的平面偏差平均值μ2为0.0328mm,标准差σ2为0.0245mm,在置信区间(–0.1,0.1)内的置信度为98.7%;第3次检测结果的平面偏差平均值μ3为0.0383mm,标准差σ3为0.0302mm,在置信区间(–0.1,0.1)内的置信度为95.3%。以上数据表明该系统具有较高的测量精度和测量稳定性。
图表编号 | XD00132766200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.01 |
作者 | 刘之远、张丽艳 |
绘制单位 | 南京航空航天大学机电学院、南京航空航天大学机电学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |