《表4 EDS元素点扫描结果》
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《钎焊中Au80Sn20共晶钎料与Ni/Au镀层的界面反应》
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由上述分析可知,当钎焊温度为325℃、钎焊时间为20min时,钎缝内圆孔状孔洞缺陷的数量较少,同时从界面镀层处向钎缝中心区域生长的尖锐枝晶较长,是理想的研究对象。对其钎缝进行扫描电镜的背散射处理,如图4所示,钎缝上方是可伐合金基板,下方是铝硅基板。在整个钎缝中,分别在上方基板镀层(a)、中间钎料层(b)和下方基板镀层(c)三个区域各选取2点进行EDS点扫描分析。选取的6个点的具体位置如图5所示,其EDS点扫描分析结果如表4所示。
图表编号 | XD00130642700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.20 |
作者 | 胡子翔、张阳阳、王梅、王昭漫、杨欢天 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所、国家级工业设计中心(中电38所)、中国电子科技集团公司第三十八研究所、国家级工业设计中心(中电38所)、中国电子科技集团公司第三十八研究所、国家级工业设计中心(中电38所)、华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室、华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室 |
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