《表6 2#~4#工艺试样有效晶粒尺寸(EGS)和比例统计》

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采用EBSD测量并统计了2#~4#工艺试样的有效晶粒尺寸(由相邻晶粒取向差大于15°的大角度晶界所包围的晶粒尺寸)和比例对比见表6,其中横向和纵向的有效晶粒尺寸是采用EBSD的截线功能进行统计。