《表1 各层测试时间及功耗结果比较》

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《3D SoC并行测试中TAM调度优化设计》

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为保证实验对象与对比文献一致，实验首先选取p22810、p34392、p93791三种测试电路在系统TAM数量为32，最大功耗阈值为80 mW的条件下进行层内并行测试。文献[16]方法选取种群规模N=2 000，允许误差err=0.005，最大迭代次数T=100进行测试，产生的测试时间、最大功耗、平均功耗及优化比例如表1所示。