《表4 实验数据：基于STM32+W5500的双环网磁场数据采集技术》
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《基于STM32+W5500的双环网磁场数据采集技术》
分析图10的数据，得到表4的实际数据。经过误差分析后，发现误差均小于1‰，满足了设计误差要求。最终设计的设备样机如图11所示。
| 图表编号 | XD00119071800 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.12.01 |
| 作者 | 余万祥、李维波、徐聪、李巍、何凯彦 |
| 绘制单位 | 武汉理工大学自动化学院、武汉理工大学自动化学院、武汉理工大学自动化学院、武汉理工大学自动化学院、武汉理工大学自动化学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
