《表2 二次拟合误差仿真结果》

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《光阱中微粒位置高精度检测技术》

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原始二次曲线方程为y=1-x2/2 500，其峰值位置横坐标为0，即微粒真实位置为0，加噪声后，直接取曲线最高点微粒位置误差为±0.5，进行二次拟合后，曲线方程为y=-0.000 4x2+0.000 02x+0.999 7，其峰值位置横坐标为0.025，即此时微粒位置误差仅为0.025，相比于拟合前误差降低了两个数量级。重复进行5次仿真，统计结果如表2所示。