《表2 PE Optima 7300V光谱仪各元素分析谱线》

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《电感耦合等离子体原子发射光谱法快速测定金锭中12种杂质元素》

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此外，通过不同型号的ICP-AES光谱仪（SPEC-TRO CIROS和PE Optima 7300V）的比对发现，受仪器检测精度、检测器类型的影响，部分元素的分析谱线选取不同。因部分ICP是经中阶梯光栅分光产生的面状光谱，采用CID进行检测，谱线排列过于紧密，金基体谱线过强对邻近谱线造成了物理干扰，导致部分元素谱线选取的差异，甚至无法进行测定。推荐采用经罗兰圆分光系统产生线状光谱用CCD传感器检测的ICP。该类ICP金基体谱线分部分散在整个罗兰圆上，谱线排列松散，金基体对各元素的分析谱线影响较小。因此，检测设备类型的选取非常关键。当采用PE Optima 7300V（CID检测器）进行检测时，优化后的谱线见表2。