《表1 不同结构BASE对同一只FPMT测得的时间性能》

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《超快速MCP-PMT的时间特性测试方法研究》

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如图8所示为不同结构设计和电子学元器件焊接的三款分压器，实测同一只FPMT，在相同分压比例条件下，测得其TTS和上升时间。阳极信号采用直接读出的方式，信号地与分压器BASE板的地相连，且使用高速采样示波器进行测试。其中，图8（a）～8（c）为分压器1～3，图8（d）为三款分压器都可以测得的电荷谱，都能够很好地分辨出三光子。其中分压器3是在前面两款的基础上对元器件的选型、PCB板结构、微带线与元器件的布局布线做了相应的优化改进。表1为测试的时间性能结果，可以看出由于分压器结构的差异，导致测试结果TTS差异达到80 ps左右，下降时间差异达到几个纳秒以上。