《表2 不同电场强度下Cu/Cu3Sn界面各原子的本征扩散系数》
提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《电场作用下Cu/Cu_3Sn界面原子扩散行为的分子动力学模拟》
表2为不同电场强度下Cu1、Cu2和Sn原子的本征扩散系数。从表2中可以看出,Cu3Sn中Cu2、Sn原子的本征扩散系数均随着电场强度的增加而增大,电场强度越大,本征扩散系数变化越明显。这是由于原子发生扩散需要外界提供驱动力,而随着电场强度的增加,原子受到更大的电场力,使得更多的原子能够克服能垒达到扩散激活的状态从而进行扩散。因此在温度和时间一定的情况下,随着电场强度的增加,界面原子获得更大的扩散驱动力,原子的扩散速度必然会增加,更加有利于Cu3Sn中的原子向Cu晶体一侧扩散。而Cu晶体中Cu1原子所受到的电场力的方向与浓度梯度的方向相反,原子需要克服浓度梯度的影响,因此随着电场强度的增加,Cu1原子的本征扩散系数降低,正向电场的施加阻碍了Cu1原子向Cu3Sn一侧的扩散。由上可知,随着正向电场强度的增加,Cu晶体侧Cu1原子与Cu3Sn侧Cu2、Sn原子的扩散速率差异更加显著,产生的柯肯达尔效应更明显,从而加速了Cu/Cu3Sn界面的分离。
图表编号 | XD00115609000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.01.25 |
作者 | 郭丽婷、李晓延、姚鹏、李扬 |
绘制单位 | 北京工业大学材料科学与工程学院、北京工业大学材料科学与工程学院、北京工业大学材料科学与工程学院、北京工业大学材料科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |