《表1 不同应力检测方法对比》
综上所述,关于单晶材料的残余应力测量已经形成了多种各具特色的应力检测技术。表1列出了常用的单晶材料残余应力检测方法的测试原理、材料深度、精度以及测试的优点和局限性。为精确且快速地检测出Si C单晶材料所处的应力状态,应该结合表1来选取适用于构件实际使用情况的检测技术。
图表编号 | XD00115550300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.25 |
作者 | 邓亚、张宇民、周玉锋、王伟 |
绘制单位 | 哈尔滨工业大学复合材料与结构研究所、哈尔滨工业大学复合材料与结构研究所、哈尔滨工业大学复合材料与结构研究所、哈尔滨工业大学复合材料与结构研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |