《表2 试验项目2:压接松紧度对端子压接区电压降的影响》
结论3:端子表面氧化对端子压接区电压降的影响:引起电压降显著升高,且根据氧化程度不同,测试结果呈现明显不同的差异。端子表面氧化是导致端子压接区电压降不合格的主要原因。
图表编号 | XD00109740000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.11.30 |
作者 | 黄梦川 |
绘制单位 | 柳州市产品质量安全检验所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
结论3:端子表面氧化对端子压接区电压降的影响:引起电压降显著升高,且根据氧化程度不同,测试结果呈现明显不同的差异。端子表面氧化是导致端子压接区电压降不合格的主要原因。
图表编号 | XD00109740000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.30 |
作者 | 黄梦川 |
绘制单位 | 柳州市产品质量安全检验所 |
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