《表3 试验项目3:端子表面氧化对端子压接区电压降的影响》
进行3组试验,分别验证铜线断丝、端子压接松紧程度、端子表面氧化对端子压接区电压降的影响。每组试验均采用相同材质的端子和电线,电线均采用0.5mm2、0.75mm2、1.0mm2规格各3根。铜线断丝电压降试验,采用断1根铜丝和断2根铜丝的试验组与不断丝的参照组进行比较;压接松紧程度电压降试验,采用较松压接和较紧压接的试验组与正常压接的参照组进行比较;端子表面氧化电压降试验,采用30天氧化和90天氧化的试验组与刚从密封袋取出的全新的参照组进行比较。试验结果和结论如表1-表3所示。
图表编号 | XD00109740300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.30 |
作者 | 黄梦川 |
绘制单位 | 柳州市产品质量安全检验所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |