《表1 3种测试流程:锥形光波导耦合特性研究》
锥形光波导耦合损耗测试示意图如图5所示,850nm的光波耦合进50μm MMF,再耦合进锥形光波导中,经光波导传输后又耦合进50μm MMF,最后由双通道功率计(AV6334B,中国)探测。实验中采用精密调整架可实现MMF与光波导的精确对准。表1给出了锥形光波导3种不同的测试流程,测试流程2所获得的损耗值减去测试流程1所获得的损耗值得到FW结构下的端面耦合损耗,测试流程3所获得的损耗值减去测试流程1所获得的损耗值得到WF结构下的端面耦合损耗,实验中匹配液滴加在耦合点处,可认为耦合损耗为0。
图表编号 | XD001086200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.01 |
作者 | 陈佳敏、邓传鲁、王廷云、宋志强、庞拂飞 |
绘制单位 | 上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室、上海大学通信与信息工程学院、上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室、上海大学通信与信息工程学院、上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室、上海大学通信与信息工程学院、上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室、上海大学通信与信息工程学院、上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室、上海大学通信与信息工程学院 |
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