《表1 纯铝块样品AlKα计数值的精密度测试结果》

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《一种用于波长色散X射线荧光光谱仪的流气式正比计数器的研制》

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测定条件1：纯铜块样品，测量CuKα的计数值，LiF(200）晶体，细准直器（150μm），无滤波片，无衰减器，闪烁计数器（SC），真空光路，计数时间10s。测定条件2：纯铝块样品，测量AlKα的计数值，PET晶体，粗准直器（750μm），加滤波片和衰减器，流气式正比计数器（F-PC），真空光路，计数时间10s。X射线源电压设置在40kV。调节电流，使测定条件2中AlKα的计数率为100～200kCPS。条件1和条件2交替测定，每个条件分别测定20次，对于纯铝块样品每测定一次，必须变换进样器中的样品位置。由于是考察F-PC，本文取测定条件2的数据，计算纯铝块样品AlKα计数值的相对标准偏差（RSD），结果如表1所示。由表1可见，相对标准偏差为0.086%，达到检定规程中A级精密度指标不大于0.149%的要求。