《表2 传感器总耐受剂量:CMOS图像传感器的γ射线电离辐照实验研究》
将选定的CMOS图像传感器送入辐照室内进行辐照实验,把样品划分为两组同时进行实验,将样品分别放置在用重铬酸银剂量计实测剂量率为23 Gy/h、44 Gy/h的计量点环境下进行。实验传感器总耐受剂量参数如表2所示。
图表编号 | XD00107414600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.11.10 |
作者 | 刘力、王湘江 |
绘制单位 | 南华大学机械工程学院、南华大学机械工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
将选定的CMOS图像传感器送入辐照室内进行辐照实验,把样品划分为两组同时进行实验,将样品分别放置在用重铬酸银剂量计实测剂量率为23 Gy/h、44 Gy/h的计量点环境下进行。实验传感器总耐受剂量参数如表2所示。
图表编号 | XD00107414600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.10 |
作者 | 刘力、王湘江 |
绘制单位 | 南华大学机械工程学院、南华大学机械工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |