《表4 W检验的计算值:某O型密封圈的双参数加速退化规律分析》

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《某O型密封圈的双参数加速退化规律分析》


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正态分布可用于分析由于老化而发生失效的产品[10]。采用Wilk-Shapiro的W检验法检验各样品的伪失效寿命,检验统计量W的值见表4。