《表4 接触电阻加速退化模型的参数估计》
提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《基于Copula函数耦合性建模的二元加速退化数据统计分析方法》
如果认为接触电阻退化过程与释放电压退化过程之间是相互独立的,继电器的可靠性模型为R0*(t)=G1*,0(D1|t)×G2*,0(D2|t)。可利用第2节中所提方法分别估计出两个性能参数对应的加速退化模型参数值,从而确定G1*,0(D1|t),G2*,0(D2|t)的表达式。接触电阻加速退化模型的参数估计情况如表4所示,释放电压加速退化模型的参数估计情况如表5所示。图4中展示了R0(t)与R0*(t)的变化曲线,R0(t)与R0*(t)之间较为接近,说明本案例中两个退化过程之间的耦合性对最终可靠性评估结果影响不大,但是如果不考虑接触电阻退化过程与释放电压退化过程之间的耦合性,所得可靠性评估结果较为保守。
图表编号 | XD0013063700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.05.25 |
作者 | 周源、吕卫民、王少蕾、孙媛 |
绘制单位 | 海军航空大学、海军工程大学、海军航空大学、海军工程大学、海军航空大学 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |