《表1 NiCo2S4-TAA和Ni Co2S4-TU的EDX能谱分析》

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《硫源对双壳层NiCo_2S_4超级电容性能影响》

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图2（a）是NiCo2S4-TAA和NiCo2S4-TU的XRD图，样品的衍射峰均与NiCo2S4（JCPDS:43-1477）的(311）、（400）、（511）、（440）晶面相对应。图2（b）以S粉和Na2S为硫源的产物分别与CoS2(JCPDS，89-1492）和Na2SO4(JCPDS，75-1979）对应。表1是NiCo2S4-TAA和NiCo2S4-TU的EDX数据。测试结果表明，NiCo2S4-TAA中Ni和Co的比例与NiCo2S4的化学计量比接近；而NiCo2S4-TU组成中Co含量略低于化学计量比，Ni含量略高于化学计量比，说明选择不同的硫源会影响产物的组成。