《表1 3种污染胁迫程度下叶片光谱的谐波振幅特征》

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《铜胁迫下玉米叶片光谱谐波振幅特征与胁迫程度判别》

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利用谐波分析对480～670 nm与670～750 nm两波段上模拟光谱曲线进行分解，提取前3次谐波子信号振幅，其振幅特征见表1。由表1分析得出:3种污染胁迫条件下，光谱在480～670 nm与670～750 nm波段上反射率的变化也造成了两波段光谱对应的能量发生了变化，并在谐波前3次子信号振幅C1、C2、C3上明显呈现出来。480～670 nm与670～750 nm波段的前3次谐波振幅见表1，对于480～670 nm波段，振幅C1与振幅C2随着胁迫程度增强而逐渐增大；对于670～750 nm波段，振幅C1、C2、C3随着污染胁迫增加逐渐增大。此外，光谱信号的谐波子信号前3次振幅都随着分解次数的增加而衰减，这也表明谐波分解后所获取的低次谐波振幅蕴含的辐射能量信息较高次谐波要大。基于480～670 nm波段与670～750 nm波段模型数据的谐波分析，验证了在480～670 nm与670～750 nm两波段上，谐波子信号振幅特征参量具有判别与区分光谱弱畸变的能力。因此，可利用480～670 nm与670～750 nm波段的前3次谐波子信号振幅C1、C2、C3对玉米植株铜胁迫程度进行分析与判别。