《表1 高光谱仪规格参数：基于高光谱技术的绝缘子污秽等级检测方法》

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《基于高光谱技术的绝缘子污秽等级检测方法》

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高光谱测试平台主要由高光谱成像系统（高光谱仪、计算机）、模拟日光光源和标准校正白板（反射率99%）组成，本系统能够获得指定对象的高光谱图像。试验中，高光谱成像仪（参数如表1所示）安装于三脚架上，镜头距样本120 cm，向下为45°角，光源对称分布于样本两侧，如图3所示。将制备的样品放在成像区域内进行高光谱采集，数据经高光谱成像仪USB数据线传至计算机，试验在温度18～25℃、相对湿度30%～80%的条件下进行。