《表1 变量描述和相关性分析结果》

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《关系强度和结构洞对关键研发者知识扩散的影响:成长阶段的调节效应》

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注:***为p<0.010，**为p<0.050，*为p<0.100，下同。

变量描述和相关性分析见表1。由表1可知，关系强度、结构洞和关键研发者的成长阶段均与知识扩散正相关。同时，表1中相关系数的绝对值均小于0.700，表明变量之间不存在较强的相关关系，初步排除了多重共线性的影响。本研究的因变量知识扩散属于计数型数据，对计数数据采用一般最小二乘法估计得到的结果是不一致和有偏的，此时采用泊松估计和负二项估计比较理想[20]。通过对因变量进行统计描述，发现数据表现出过度离散的特征，无法满足泊松估计均值等于方差的假定，因此采用负二项回归模型。借助Hausman检验，进一步确定使用固定效应的负二项回归模型。所有统计分析结果均运用Stata 13计算。