《化学分析 第5辑 超纯物质分析专辑》
作者 | 汪厚基 编者 |
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出版 | 上海市科学技术编译馆 |
参考页数 | 92 |
出版时间 | 1965(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 无 — 求助条款 |
PDF编号 | 89232588(仅供预览,未存储实际文件) |
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目 录1
1.痕量金属低化学计量测定法1
2.在无机痕量分析中应用极谱法的可能性4
3.氧化锗和金属锗中杂质的化学测定法10
4.测定锗及二氧化锗中杂质的化学光谱法20
5.用示波极谱法测定高纯金属锗中铜、铅、锌、镍、铁和银22
6.二氧化锗中砷的测定30
7.测定半导体中微量碳的一种新方法:对硅和锗的应用35
8.用真空熔化法测定真空熔炼钢、钼及单晶硅中的氧37
9.高纯铋的化学-光谱分析44
10.硒中铜、镉、铊、铅、碲及铁的极谱测定47
11.金属锑中锡的测定49
12.高纯镍的光谱分析54
13.甲基紫共沉淀-极谱法测定镍基合金中的杂质57
14.锆和其化合物中杂质的光谱分析59
15.关于分析锆和铪的方波极谱63
16.高纯铂中痕量杂质的直接光谱测定67
17.燃烧-分光光度法测定金属中痕量的硫72
18.利用副玫瑰苯胺-甲醛的分光光度法测定粗铜和精铜中的硫77
19.微量硒的萤光测定法81
20.富锌物质中痕量镉的测定86
21.金属铅与金属锌中铟的极谱测定91
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